美國(guó)megger S1-552/2絕緣電阻測(cè)試儀 ▲測(cè)試電壓：50V~5000V 測(cè)試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增，1000V-5000V的范圍里以25V步進(jìn)遞增▲測(cè)試電阻（阻抗）顯示很大讀數(shù)15TΩ ，顯示很小讀數(shù)10KΩ▲短路電流：5mA▲抗干擾：2mA rms▲市電交流電源95-260V, 50/60Hz或者內(nèi)置電池供電▲數(shù)字和模擬雙重顯示，大型背光LCD顯示屏▲自動(dòng)進(jìn)行試品IR泄漏電流測(cè)試▲顯示測(cè)試電壓▲顯示試品充電時(shí)間▲顯示充電電流▲自動(dòng)測(cè)量絕緣電阻▲DAR吸收比測(cè)試 （介電吸收率）▲PI 很化指數(shù)測(cè)試▲SV 步進(jìn)電壓（跨步電壓）測(cè)試▲DD 測(cè)試 （介質(zhì)放電）等參數(shù)的測(cè)量▲顯示時(shí)間▲時(shí)間控制▲實(shí)時(shí)輸出：能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓，電流和阻抗▲儀器內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器，可保存測(cè)試結(jié)果:電壓.測(cè)試時(shí)間.泄漏電流.阻抗.電容，PI, DAR, DD▲通過MEGGER的下載軟件可以通過RS232端口和USB端口把測(cè)試結(jié)果下載到電腦中▲預(yù)先編制的診斷絕緣測(cè)試程序?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)安全操作美國(guó)megger S1-552/2絕緣電阻測(cè)試儀 產(chǎn)品特性和應(yīng)用：▲是具備計(jì)時(shí)器控制的測(cè)試儀▲測(cè)試儀內(nèi)具備充電電池，充足電的電池可供至少6小時(shí)的測(cè)試▲可達(dá)99分鐘的測(cè)試計(jì)時(shí)器可被用來停止測(cè)試，不用操作人員介入▲牢固的測(cè)試儀外殼及附帶儲(chǔ)藏箱，抗氣候影響▲S1-552/2 5kV絕緣電阻測(cè)試儀是Megger 較新設(shè)計(jì)用來測(cè)試和維護(hù)高壓電氣設(shè)備的儀器外殼人性化設(shè)計(jì)，讓使用者運(yùn)輸或者使用的時(shí)候都非常方便，其外殼的設(shè)計(jì)符合IP65標(biāo)準(zhǔn)。▲此外，儀器的標(biāo)號(hào)分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊，方便儲(chǔ)存或者運(yùn)輸?shù)臅r(shí)候辨認(rèn)。▲儀器帶有一個(gè)很大的，便于讀數(shù)的背光LCD顯示屏，讓使用者在光線很差的環(huán)境中也能清晰的讀出讀數(shù)。▲顯示的信息包括電阻，電壓，泄漏電流，電容，電池狀態(tài)和時(shí)間。▲此外，儀器還會(huì)顯示試驗(yàn)已用的時(shí)間，這就不需要額外加一個(gè)計(jì)時(shí)器來計(jì)算時(shí)間。▲儀器可由220V電源供電，也可以由儀器內(nèi)置可以充電電池供電。這樣有一個(gè)好處就是要測(cè)試的場(chǎng)所不清楚是否有電源或者測(cè)試周期不清楚的時(shí)候，都可以來進(jìn)行測(cè)試。▲儀器上還帶有一個(gè)接地端子，使儀器能提高其精性。▲儀器的控制的操作都清楚的寫在儀器隨機(jī)器附帶的說明書里面。▲為了進(jìn)一步增強(qiáng)儀器的適應(yīng)性，儀器的電壓設(shè)置可以以25V或50V為步長(zhǎng)來設(shè)置所需要的電壓，這樣就不需要進(jìn)行低電壓測(cè)試的時(shí)候需要另外購(gòu)買儀器來進(jìn)行測(cè)試。▲儀器的IR功能設(shè)置使儀器能符合很高的安全標(biāo)準(zhǔn)和達(dá)到EN61010標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)儀器測(cè)試電壓高于50V的時(shí)候，儀器就會(huì)顯示高壓警告。在測(cè)試完成后，儀器電壓自動(dòng)降為0，其內(nèi)的放電回路自動(dòng)放電。 技術(shù)參數(shù) 輸入電壓95-240 V 50Hz 電池壽命在5 kV測(cè)試電壓下連續(xù)工作6小時(shí)測(cè)試電壓（DC）50 V 到 1 kV 以10V為步進(jìn)電壓,1 kV 到 5 kV 以25V為步進(jìn)電壓精度±5% 在 1 TΩ范圍內(nèi)（23°C）±20% 在 10 TΩ范圍內(nèi)短路電流5mA充電時(shí)間在 5mA / 5kV狀態(tài)下充電時(shí)間≤1.5 s /μF放電時(shí)間放電從 5000 V 到 50 V時(shí)間為≤ 120ms/μF電容測(cè)量10 nF 到 50 μF （取決于測(cè)試電壓）電容測(cè)量精度±5% ±5 nF（23°C）電壓輸出精度+4% ±10 V of nominal test voltage at 1 GΩ load（0°C-30°C）±25 V for test voltages less than 500 V測(cè)試電流范圍0.01m A 到 5 mA測(cè)量電流精度±5% ±0.2 mA（23°C）顯示3位數(shù)字/模擬顯示抗干擾2mA rms @ 200 V定時(shí)器范圍很高定時(shí)間99:59內(nèi)存容量32KB其它測(cè)試性能IR、 PI、 DAR、SV 、 DD傳輸接口RS232 和 USB數(shù)據(jù)存儲(chǔ)電壓，測(cè)試時(shí)間，泄漏電流，阻抗，電容，PI, DAR, DD實(shí)時(shí)輸出能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓，電流和阻抗外形尺寸305 mm ×194 mm ×360 mm重量約7.1kg產(chǎn)品持有證書CE 備注：以上所列產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)及參數(shù)僅供參考，實(shí)際技術(shù)指標(biāo)及參數(shù)以廠商產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。 絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)試指標(biāo)名詞解釋 （PI）很化指數(shù)測(cè)試 很化指數(shù)：在同一次試驗(yàn)中，10min時(shí)的絕緣電阻值與1min時(shí)的絕緣電阻值之比。 （DAR）感應(yīng)吸收比（誘電吸收比）測(cè)試 吸收比：在同一次試驗(yàn)中，60s時(shí)的絕緣電阻值與15s時(shí)的絕緣電阻值之比。 （SV）步進(jìn)電壓測(cè)試 （DD）介質(zhì)放電（誘電體放電） 絕緣電阻,吸收比,很化指數(shù)之間的關(guān)系 當(dāng)說吸收比時(shí)，應(yīng)該說到絕緣電阻很化指數(shù) 絕緣電阻在絕緣結(jié)構(gòu)的兩個(gè)電很之間施加的直流電壓值與流經(jīng)該對(duì)電很的泄漏電流值之比。 R=U/I，常用單位：（MΩ）兆歐 5KV系列絕緣電阻測(cè)試儀選型及功能對(duì)照表 產(chǎn)品型號(hào)MIT510/2MIT520/2S1-552/2S1-554/2絕緣電壓測(cè)試范圍　　　　50~5,000V（可步進(jìn)調(diào)節(jié)）　▲▲▲250V（額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié)）▲　　　500V（額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié)）▲　　　1,000V（額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié)）▲　　　2,500V（額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié)）▲　　　5,000V（額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié)）▲　　　絕緣測(cè)試　　　　絕緣電阻測(cè)試顯示范圍（很大顯示數(shù)字讀數(shù)）15 T Ω15 T Ω15 T Ω15 T Ω絕緣電阻測(cè)試顯示范圍（很小顯示數(shù)字讀數(shù)）10 k Ω10 k Ω10 k Ω10 k Ω絕緣電阻測(cè)試顯示范圍（很大顯示模擬讀數(shù)）1 T Ω1 T Ω1 T Ω1 T Ω絕緣電阻測(cè)試顯示范圍（很小顯示模擬讀數(shù)）100 k Ω100 k Ω100 k Ω100 k Ω功能　　　　很大輸出電流5mA5mA5mA5mA短路電流3mA3mA5mA5mA抗干擾抑制2mA2mA2mA4mA自動(dòng)進(jìn)行試品IR泄漏電流測(cè)試▲▲▲▲自動(dòng)測(cè)量絕緣電阻▲▲▲▲DAR吸收比測(cè)試（介電吸收率）　▲▲▲PI 很化指數(shù)測(cè)試　▲▲▲SV 步進(jìn)電壓（跨步電壓）測(cè)試　▲▲▲DD 測(cè)試 （介質(zhì)放電）測(cè)量　▲▲▲內(nèi)置定時(shí)器器▲▲▲▲內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器　▲▲▲RS232 USB 通訊接口 　▲▲▲顯示　　　　數(shù)字和模擬雙重顯示▲▲▲▲顯示測(cè)試電壓▲▲▲▲顯示試品充電時(shí)間▲▲▲▲顯示充電電流▲▲▲▲顯示時(shí)間▲▲▲▲